Твоя библиотека
Главная
Список разделов
Популярное
Главная
О. М. Жигалина
Автор: О. М. Жигалина
Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств
Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам
Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам
