Твоя библиотека
Главная
Список разделов
Популярное
Главная
Александр Величко
Автор: Александр Величко
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
