Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

4.95 из 5, отдано 23 голосов

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Категория: материаловедение

Правообладатель: МИСиС

Год: 2013

Легальная стоимость: 120.00 руб.

Ограничение по возрасту: 0+

Читать книгу «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» онлайн:

Комментарии ():