Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

2.85 из 5, отдано 7 голосов

В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.

Категория: материаловедение

Правообладатель: МИСиС

Год: 2006

Легальная стоимость: 392.00 руб.

Ограничение по возрасту: 0+

Читать книгу «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» онлайн:

Комментарии ():