В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта.
Категория: материаловедение
Правообладатель: МИСиС
Год: 2002
Легальная стоимость: 328.00 руб.
Ограничение по возрасту: 0+
Комментарии ():