Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
Категория: учебники и пособия для вузов
ISBN: 978-5-9729-1731-0
Правообладатель: Инфра-Инженерия
Год: 2024
Легальная стоимость: 820.00 руб.
Ограничение по возрасту: 0+
Комментарии ():