Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением. Для студентов, изучающих дисциплины «Методы структурного анализа», «Материаловедение», «Современные методы исследования материалов», «Материалы микро- и наноэлектроники» и др.
Категория: учебники и пособия для вузов
ISBN: 978-5-7038-4785-5
Правообладатель: МГТУ им. Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)
Год: 2017
Легальная стоимость: 144.00 руб.
Ограничение по возрасту: 0+
Комментарии ():