Настоящее учебное пособие состоит из двух частей. В первой части показана природа рентгеновских лучей, основные понятия и элементы структурной кристаллографии, теорема преобразования Фурье, рассеяние излучений атомом, а также представлены методы дифракционного структурного анализа. Во второй части дано применение синхротронного излучения для структурного анализа кристаллов, представлена аппаратура для дифракционных структурных исследований, показано применение дифракционного структурного анализа. Книга содержит большое количество иллюстративного материала, который поможет студентам лучше усвоить материалы пособия.
Категория: учебники и пособия для вузов
ISBN: 9785534043167
Правообладатель: ЮРАЙТ
Год: 2017
Легальная стоимость: 1329.00 руб.
Ограничение по возрасту: 0+
Комментарии ():