Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

3.5 из 5, отдано 7 голосов

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Категория: программирование

Правообладатель: Синергия

Год: 2014

Легальная стоимость: 96.00 руб.

Ограничение по возрасту: 0+

Читать книгу «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» онлайн:

Комментарии ():